Graphische Darstellung der wahren Mikrotopographie einer technischen Oberfläche als Abweichung von der geraden Ideallinie über eine definierte Messlänge.
Bei der Rauheitsmessung werden i. Allg. die Rauheitswerte Ra, Rz, Rmax anhand einer graphischen Messkurve vom Messgerät protokolliert. Bei reiner translatorischer Messspitzenbewegung ist z. B. der Ra-Verlauf als xy-Kurve mit y = Längsrichtung über lt und x = Amplitudenbewegung R als mehr oder minder unregelmäßige oder regelmäßige Profilkurve (in Abhängigkeit vom finalen Oberflächenbearbeitungsprozess) um die Ideallinie R = 0 (parallele Gerade zur y-Achse) pendelnd.
Bei der 3-D-Rauheitsmessung erhält man keine ebene Kurve, sondern eine Relieffläche in einem räumlichen xyz-Koordinatensystem, wobei die Messnadelspitze einen definierten Flächenbereich lt x bt abtastet und pro Flächenpunkt li, bi die Amplitude R ermittelt. (z. B. bei l1. b1 = 2 x 2 = 4 mm2 ca. 400 Flächenpunkte).
Sowohl die xy-Kurve (2-D) als auch die xyz-Kurve (3-D) als typische Rauheitsprofile sind von wesentlicher Bedeutung im Zusammenhang mit den Ra- / Rz- / Rmax-Werten. Obgleich die Kurvenformen aufgrund des Messprinzips keine tatsächliche 1:1-Abbildung mit der wahren Oberfläche darstellen, sondern nur mehr oder minder exakte Hüllkurven, erlauben die Profile wesentliche Ergänzungen zu den reinen Ra- / Rz- / Rmax-Zahlenwerten, da etwa scharfkantige Kurvenübergänge (Profile) eindeutig auf mikroraue mechanische Vorfertigungszustände hinweisen und eher runde Kurvenformen für mikroglatte, elektrochemisch polierte Oberflächen typisch sind.
Grundsätzlich muss festgestellt werden, dass die Ra- / Rz- / Rmax-Werte im Hinblick auf die endgültige Oberflächenbeurteilung nur zum Teil aussagekräftig sind und als Oberflächenkennwerte alleine bei weitem nicht ausreichen. Nur wenn eine Reihe anderer Informationen, wie Oberflächenbearbeitungshistorie, mikroskopische Prüfung, Aussage über die Passivschicht, Oberflächenspannung etc. bekannt sind, können die Ra- / Rz- / Rmax-Werte zur Beurteilung der rein topographischen (Topographie) Komponente der Oberflächenbeurteilung ein wichtiges Informationsdetail sein.